关键是聚焦,高倍聚焦,低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话,还要调节像散,对中等等之类的。
SEM想清楚这个要自己多试条件,不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的,当然条件确认的情况下,就是要看你的技术咯,电子束对中,像散调节,wobble,最后就是focus清晰啦。
制样,成功制备出所要观察的位置,样品如果不导电,可能需要镀金境电,环镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下,设备,电镜电子枪仍在合理的使用时间内,拍摄,找到拍摄位置,选择合适距离,选择合适探头,对中,调像散,聚焦,反复操作至最清晰。
扫描电镜作为一种基础显微成像工具,因具有超高的放大能力,从而被高校、科研院所、材料研发和质量分析部门广泛用于。
第一,样品导电,则就对比度问题;第二,样品不导电,或样品过多,或喷金量不够,这时需要喷金时间需要加长,而且样品量最好肉眼略可见即可;第三,样品放在液态导电胶中。 查看原帖>>10nm非常小了,一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有,SEM是二次电子成像,由于二次电子的产额随原子数的变化不大,所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这个样品,在TEM图像中,Ni的颜色比Al2O3的暗,如果条件允许的话,做HRTEM或者EDX就更能准备表征你样品中的黑色纳米颗粒是Ni了~~~欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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