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现成的软件我不知道具体的叫什么名字。但是我知道东北大学宗亚平老师带的学生,是做这一个方向的。好像要编程,输入很复杂的热力学公式。之后可以模拟出晶粒在热处理过程中,晶粒长大的过程。可以看晶界。这个东西很专业。怀疑成型直接能用的计算机模拟结晶过程的软件不会多。应该不容易找。有可能花钱买都不一定有买的。你没太说清楚照的是啥,什么尺度。如果是HRTEM高分辨的,你一个视野内可以看到好多晶粒的那种,你可以任意拉一条直线,固定长度,然后数这条线穿过了多少个晶粒。数好了数量之后由线段长度除以晶粒数量,任意取三条线,取平均,就得到平均晶粒大小了。这个是可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。
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