如何测量横截面的SEM图像？

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是

断口

的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。

楼主如果基体必须是不导电玻璃，如不能喷金，可以喷碳，这可以消除荷电问题，不妨碍形貌观察。如果不能喷涂导电膜，就得升级您使用的仪器：使用具有更高的低电压性能扫描电镜，玻璃水平放置，低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件，或者玻璃片大角度倾斜消除荷电，提高加速电压获得更好的分辨率；可以选择低真空观察模式。

微晶玻璃的SEM，一般要看析晶区域和晶粒的形状、大小及分布区域性等微观形貌特征，对于感兴趣的晶粒，可以采用EDS点扫描来分析其元素组成，确切的相组成还要结合XRD分析或者TEM的选区电子衍射分析。

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