光薄片,其实在国内指的是用于矿相鉴定的光片,即反光用的,有两种,一种是很厚很厚的,可以压在橡皮泥上放到反光显微镜下去看的;另一种厚度不定,因为主要是用于反光,不破损即可;
岩石薄片,就是用于显微镜鉴定的片子,通过30um,国内的情况是加盖薄片,在这里盖片有好处也有不好处,好处是有盖片,显微镜鉴定的时候很好,很清楚,不好就是盖上去了取不下来,至少不容易取下来,如果你要做电子探针或者SEM的话就没办法了,不盖吧,显微镜鉴定的时候可能会有点干扰;
二次电子扫描象的分辨本领最高,约等于入射电子束直径,一般为6-10nm深,主要用于测试表面形貌;背散射电子为50-200 nm深,可以测表面形貌,也可以得到表面成分衬度;吸收电子和X射线为100-1000nm深,这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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