关于如何测定膜孔径的问题

这个问题，是大家都很关注的。因为NF膜表面的话SEM是得不到数据的，AFM也不行的。。SEM就算放大30W倍也不行个。。在此，给大家介绍一个相较可行的方法： 膜的孔径测量一般用汞压法可以测量。首先要说明白，膜的表面孔径是一个平均孔径，它和膜的孔隙率都是表征膜的重要数据。但是一般要说膜的截留性能，尤其是超滤或纳滤膜，一般使用截留分子量来表示。因为到了微米或纳米级别的膜孔，很难用直接观察到孔径和孔隙率，当然，如果用氮气吸附作空隙率和平均孔径的话也是有人这么做过，但是由于膜的支撑层的孔径更大，所以数据是没有什么意义的。 可以间接测量，比如某种分子的脱除率，或者测截留分子量比如需要测定100-200nm孔径的中空膜，可以选择300nm.100nm的微粒溶液，进行测定其阻止率，用来说明此孔径的具体分布。。。相对比较好用。而且，在日本的很多公司也都认可，该方法测定的数据。

代价太高，需要3D技术，也就是层层计算。 土壤的某一个截面的孔隙率是非常好计算的，但体积分数就很难，只能切片，照相，然后3D拟合，最后计算出精确地孔隙率。

如果对于微观结构不必要了解，用其他方法更简单使用。

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