SEM能否观察镍致密性

可以观察。

需要你将你的样品进行抛光，最好再做一个横断面的抛光试样，这样在表面和横断面都可以观察。

放大倍数需要样品进入SEM后具体观察，放大倍数不是问题。估计只需要很小的放大倍数，1000倍左右没什么问题

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

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