跪求PCB行业中SEM+EDS测试方法,非常感谢!!

跪求PCB行业中SEM+EDS测试方法,非常感谢!!,第1张

PCB失效原因越来越多,在以前看起来难以发现的问题,现在可以用扫描电子显微镜与能谱(SEM&EDS)分析出来。本文介绍了在PCB生产过程中利用SEM&EDS发现的三个较为经典的案例,介绍了该技术在实际解决问题过程中的关键作用

:(SEM-EDS)在PCB失效分析中的应用

可以测。

可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。

SEM的工作原理与使用方法 :

SEM的工作原理 扫描电镜(SEM)是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。

当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。

在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。

可以把材料切一小块儿,然后镶样吧(就像磨小试样的金相一样),磨好后再喷金,然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法,看是能看,但看的都是

断口

的形貌吧,是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/186654.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-03-29
下一篇2023-03-29

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存