对于块状材料,如果观察断口形貌,则要把样品打断,将断口在丙酮中超声处理,去除碎渣,再喷碳或金。
对于抛光样品,需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。
你看看电子显微镜的测试原理,SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言,不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像,所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好,SEM可能看不出。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
对于块状材料,如果观察断口形貌,则要把样品打断,将断口在丙酮中超声处理,去除碎渣,再喷碳或金。
对于抛光样品,需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。
你看看电子显微镜的测试原理,SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言,不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像,所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好,SEM可能看不出。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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