TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜,场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用
xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的。
TEM:
透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2μm、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。 TEM是德国科学家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基础上于1932年发明的。
其他的建议楼主查看文献啊,文献上讲解都是比较详细的,百度知道字数有限,只能给你粘贴这么多了
(ii) The white sample was divided into four parts and separately wasobserved by SEM (Leo5420, 10[1]20keV)by TEM (H-7100, 120 keVJEM-4000, 400 keV) and by HRTEM.(ii) 将白色样品分为四份,分别用扫描电镜(leo5420,10 20 keV)、透射电镜(H-7100,120 keV;JEM -4000,400 keV)和高分辨透射电子显微镜观察。
The compositionof the product was analyzed by energy dispersive X-ray (EDX, JEM-2010).
通过能量分散型X射线(EDX,JEM-2010)分析生成物的成分。
Luminescenceexperiments were carried out by exposing the SiO2 nanowires to X-rayirradiation using a Philips set to deliver a dose of 20 Gy•min−1.
通过飞利浦仪器提供20 Gy•min−1剂量将SiO2纳米线置于X射线照射下进行了发光实验。
Theluminescence emission of the sample was measured using a high-sensitivitymultiplexed system with F/2.2 optics developed.
用开发的带F / 2.2光学器件的高灵敏度多路复用系统测量了样品的荧光发射。
Experimentswere conducted at low (25 240 K, heating rate 6K•min−1)and high (293 673 K, heating rate 50 K•min−1)temperatures.
在低温(25 240 K,加热速率6K•min−1)和高温(293 673 K,50 K•min−1)条件下进行了实验。
2. Results anddiscussion
2。结果与讨论
SEM (fig. 2(a))image reveals the presence of white product on TiSi film.
扫描电镜(图2(a))图像显示TiSi膜上有白色生成物。
Under higherresolution, the white product consists of large quantities of wire-likematerials and these wires are winding, exhibiting smooth surface and uniformdiameter (ca. 40 90 nm).
在更高分辨率的条件下(可以看出),白色生成物由大量的丝状材料构成,且这些线是弯曲的,有光滑的表面和均匀的直径(约40 90 nm)。
Further HRTEMexamination shows that the nanowires are amorphous (fig. 2(c)) and EDX analysesindicate that they consist solely of silicon and oxygen (fig. 2(d)).
用高分辨透射电子显微镜进行进一步检查表明,纳米线为非结晶的(图2(c)),而能谱分析表明,他们只是由硅和氧(图2(d))构成的。
Computeranalyses exhibit that the Si O ratio is 1 2. Therefore, they are very longamorphous SiO2 nanowires.
计算机分析表明,Si与O的比率为1:2。因此,他们是很长的非结晶SiO2纳米线。
all data a represented as the mean ± sem词典结果
all data a represented as the mean ± sem
所有数据均为平均扫描电镜
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)