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先用双面胶,在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片,记住编号;然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下(具体未知),然后超声分散(时间未知),然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台(表面是很光、平的),将乳液稀释到肉眼可看到又一点浑浊,用玻璃棒沾些,点到样品台上再喷金即可看观察的表面是否被遮挡,如果遮挡(类似光线)是看不到样品的,只能看到铝箔纸表面。sem常用电子束能量为20kev,对于铝材,穿透深度为3.4μm, 穿透能力很低。我知道最薄的铝箔10微米厚度。想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.
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