SEM和FIB之间的区别

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。

SEM是电子束成像原理.

FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.

如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.

1、首先SEM扫描电镜是利用细聚焦电子束在样品表面扫描时激发出来的各种物理信号来调制成像的机器，想要把机器中的电压键放到右下角就需要把链接上机器的电脑打开。

2、其次点击控制面板上的加速电压显示区域，出现加速电压HV设定画面。

3、最后设定电压键，把电压键移动到右下角就可以了。

SEM是扫描电镜，所加电压比较低，只是扫描用的，相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜，所加电压高，可以打透样品，观察内部结构STEM是扫描透射，是扫描电镜里面的一个功能，可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜，具体功能不太清楚了。

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