1、放大率:
与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。
所以,SEM中,透镜与放大率无关。
2、场深:
在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
3、作用体积:
电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。
4、工作距离:
工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。
如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
5、成象:
次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。
6、表面分析:
欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。
表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。
观察方法:
如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。
尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。
扩展资料:
SEM扫描电镜图的分析方法:
从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。
图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。
将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
参考资料:百度百科-扫描电子显微镜
统计学中“SEM”的意思是误差。
统计【tǒng jì】
释义:大量数据的收集、分析、解释和表述。
造句:
主持和进行,由总干事指定的统计调查的有关单位进行协调。
从制药行业的立场来看,患病人口统计也令其不得不加快进程。
分析了太阳活动21周冕洞和日珥之间的一些统计关系。
统计数字表明,至少有百分之三十的农村学龄儿童没有入学。
本年报内的统计数字以历年计算。
我一直向往的一些统计数字已经积累了一些重要盟员。
常用函数公式:1、LEN函数:用于统计一个数据或者一个词出现的次数
使用公式:=LEN(数据),需要进行统计的关键词,主要作用就是计算关键词出现的次数
2、countif函数:统计一个区域的数据中符合一个条件的总数量
使用公式:=countif(区域,条件) 需要注意符号是英文状态,除了字母,都要加一下双引号。
3、vlookup函数:纵向查找
使用公式:=vlookup(G:G,A:B,2) G:G相同的一列,A:B查找范围,2是查找的第几列
如果没有相同值,可以自己创造一个相同值。
4、sumif函数:条件求和
使用公式:=sumif(C:C,”>20”,B:B)
C列条件大于20,b列的和,注意符号使用英文状态下,除了字母都要添加双引号
5、sumifs函数:多条件求和
使用公式:=sumifs(B:B,C:C,”>80”,D:D,”>80”)
注意先写要求和的区域,再写条件
常用的sem数据分析函数,各位小伙伴们学会了吗?可以多多操作,牢牢记住公式,让自己的工作更加轻松,事半功倍。
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)