电子电气产品的可靠性测试是怎样做的？都有什么检测项目？

电子电气类产品（包括IT类、通讯类、汽车类、家用电器类、中小型电子产品等）的质量检测及可靠性相关相关的检测项目如下： 电子元器件的质量检测、失效分析；PCBA的组装质量检测、可靠性测试、失效分析及相关设计、工艺方面的改进建议；无铅焊接和电子产品制造工艺的技术咨询、培训等；企业可靠性系统建立的咨询服务；供应链可靠性保障能力评估和审核。其他。环境试验类：温湿度相关试验Temperature-humidity机械振动 Vibration机械冲击 Mechanical shock静态跌落 Drop盐雾试验 Salt spray紫外老化 Climate UV test混合气体腐蚀 Mixed gas test其他测试 Others失效分析类：断面切片 Micro Section染色起拔 Dye &Pry焊点强度 Pull &Shear扫描电子显微镜 SEM-EDS超声扫描 C-SAMX射线无损检验 X-ray 其他分析 Others元器件测试：镀层分析 Coating Analysis可焊性测试 Solderability耐热性测试 Heat Resistance潮湿敏感测试 Moisture Sensitive Level锡须测试 Tin Whisker其他测试 Others

EBL

Experiment-based learning

基于实验的教学方法。 电子束曝光系统（electron beam lithography, EBL，又称电子束暴光系统）是一种利用电子束在工件面上扫描直接产生图形的装置。由于SEM、STEM及FIB的工作方式与电子束曝光机十分相近，美国JC Nabity Lithography Systems公司是最早研发了基于改造商品SEM、STEM或FIB的电子束曝光装置（Nanometer Pattern Generation System纳米图形发生系统，简称NPGS，又称电子束微影系统）。电子束曝光技术具有可直接刻画精细图案的优点，且高能电子的波长短（<1 nm），可避免绕射效应的困扰，是实验室制作微小纳米电子元件最佳的选择。相对于购买昂贵的专用电子束曝光机台，以既有的SEM等为基础，外加电子束控制系统，透过电脑介面控制电子显微镜中电子束之矢量扫描，以进行直接刻画图案，在造价方面可大幅节省，且兼具原SEM 的观测功能，在功能与价格方面均具有优势。由于其具有高分辨率以及低成本等特点，在北美研究机构中，JC Nabity的NPGS是最热销的配套于扫描电镜的电子束微影曝光系统，而且它的应用在世界各地越来越广泛。（NPGS最突出优点是技术先进性无与伦比且性价比高）

TPM

TPM安全芯片TPM实际上是一个含有密码运算部件和存储部件的小芯片上的系统，由CPU、存储器、I/O、密码运算器、随机数产生器和嵌入式操作系统等部件组成。

P2904BD:

http://products.niko-sem.com/images/product/129057688457187.pdf

P4004ED:

http://products.niko-sem.com/images/product/128531909086385.pdf

台湾的尼克森半导体公司

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