另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了,基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片,必须保持分散液状态来做电镜扫描。
一楼回答的是针对纳米棒吧?1、纳米颗粒是指在100纳米以下的,都叫纳米颗粒。2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪(也有低端国产的粒度仪),可以提供粒度报告,尺寸分布报告,体积分布报告,强度分布报告等多种数据。特点是可以测试1纳米~1000纳米范围内的样品数据可靠性高,要求纳米颗粒的粒径分布较为集中,你不要有很多1纳米级的,又有很多1000纳米的,这样出的数据可靠性相对低。会提供一个数据可靠性参数PDI。便宜,因为我们实验室就有可以帮你测。别的地方也有,行价大约是在50~100元之间吧。粒径分为晶体粒径,和颗粒粒径,如果楼主确定是要颗粒粒径的话,还可以通过SEM,或FE-SEM来看。然后通过相关软件数据统计。SEM便宜也就100元左右,FE-SEM可能要300~500,这样看你的样品导电不导了,涉及到喷金、喷碳的问题。一楼说的紫外,我觉得的可取性不是很高,因为只是定性分析,不能给出定量数据,而且要受到浓度等多种因素影响,UIV主要用于浓度和紫外特征峰、漫反射等方面的表征。而且一般TEM随随便便就可以达到纳米级,没有那么夸张。一般的也就200元,高分辨的会比较贵也就500够了。但有个问题是TEM看到不一定是颗粒粒径,有可能是晶体粒径,你要具备分析的能力,也可以用这个表征。不知道你的纳米分布范围,一般激光粒度仪达不到几个纳米的地步,几十个纳米以上还是可以用激光粒度仪侧的。再小的尺度可以采用动态光散射的方法测定,这是国际上比较通用的方法。我一般不建议采用做SEM或TEM统计的方法来得到粒径分布,因为粒径分布是大量粒子的统计结果,就做几张照片统计太片面,不太准,而且一般比激光粒度仪测得的数据偏小。
另外小角度XRD也可以测定粒径的分布。
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