计量经济学中SC和AIC准则指的是什么?请给出具体定义。谢谢。急~

计量经济学中SC和AIC准则指的是什么?请给出具体定义。谢谢。急~,第1张

AIC(赤池信息准则

SC施瓦兹准则

1、施瓦兹准则SC(Schwarz Criterion),其检验思想也是通过比较不同分布滞后模型的拟合优度来确定合适的滞后期长度。检验过程是:在模型中逐期添加滞后变量,直到SC值不再降低时为止,即选择使SC值达到最小的滞后期k。SC比更加“严厉地处罚”在模型中额外添加不重要的解释变量。

2、AIC信息准则即Akaike information criterion,是衡量统计模型拟合优良性(Goodness of fit)的一种标准,由于它为日本统计学家赤池弘次创立和发展的,因此又称赤池信息量准则。它建立在熵的概念基础上,可以权衡所估计模型的复杂度和此模型拟合数据的优良性。

扩展资料:

AIC信息准则在1971年由赤池弘次提出,该准则于1973年以概念简介的形式发表。1974年首次出现在赤池弘次发表的正式论文中。截止2018年6月,该论文已被超过4万次引用。

数字信号处理中对多种模型作选择的判别方法。在一般的情况下,AIC可以表示为: AIC=2k-2ln(L)其中:k是参数的数量,L是似然函数。假设条件是模型的误差服从独立正态分布。

参考资料来源:百度百科-施瓦兹准则SC

参考资料来源:百度百科-计量经济学

参考资料来源:百度百科-AIC信息准则

https://www.sohu.com/a/386218186_698752

目前,空间计量经济学研究包括以下四个感兴趣的领域:

计量经济模型中空间效应的确定; 合并了空间影响的模型的估计;空间效应存在的说明、检验和诊断;空间预测。

空间计量经济学模型有多种类型(Anselin,et al. 2004)。 首先介绍纳入了空间效应(空间相关和空间差异)、适用于截面数据的空间常系数回归模型,包括空间滞后模型(Spatial Lag Model,SLM)与空间误差模型(Spatial Error Model,SEM)两种,以及空间变系数回归模型——地理加权回归模型(Geographical Weighted Regression,GWR)。适用于时间序列和截面数据合成的空间面板数据计量经济学模型将在以后予以介绍。

空间滞后模型(Spatial Lag Model,SLM)主要是探讨各变量在一地区是否有扩散现象(溢出效应)。其模型表达式为:参数 反映了自变量对因变量的影响,空间滞后因变量 是一内生变量,反映了空间距离对区域行为的作用。区域行为受到文化环境及与空间距离有关的迁移成本的影响,具有很强的地域性(Anselin et al.,1996)。由于SLM模型与时间序列中自回归模型相类似,因此SLM也被称作空间自回归模型(Spatial Autoregressive Model,SAR)。

空间误差模型(Spatial Error Model,SEM)存在于扰动误差项之中的空间依赖作用,度量了邻近地区关于因变量的误差冲击对本地区观察值的影响程度。由于SEM模型与时间序列中的序列相关问题类似,也被称为空间自相关模型(Spatial Autocorrelation Model,SAC)。

估计技术:鉴于空间回归模型由于自变量的内生性,对于上述两种模型的估计如果仍采用OLS,系数估计值会有偏或者无效,需要通过IV、ML或GLS、GMM等其他方法来进行估计。Anselin(1988)建议采用极大似然法估计空间滞后模型(SLM)和空间误差模型(SEM)的参数。

空间自相关检验与SLM、SEM的选择:判断地区间创新产出行为的空间相关性是否存在,以及SLM和SEM那个模型更恰当,一般可通过包括Moran’s I检验、两个拉格朗日乘数(Lagrange Multiplier)形式LMERR、LMLAG及其稳健(Robust)的R-LMERR、R-LMLAG)等形式来实现。由于事先无法根据先验经验推断在SLM和SEM模型中是否存在空间依赖性,有必要构建一种判别准则,以决定哪种空间模型更加符合客观实际。Anselin和Florax(1995)提出了如下判别准则:如果在空间依赖性的检验中发现LMLAG较之LMERR在统计上更加显著,且R-LMLAG显著而R-LMERR不显著,则可以断定适合的模型是空间滞后模型;相反,如果LMERR比LMLAG在统计上更加显著,且R-LMERR显著而R-LMLAG不显著,则可以断定空间误差模型是恰当的模型。

除了拟合优度R2检验以外,常用的检验准则还有:自然对数似然函数值(Log likelihood,LogL)、似然比率(Likelihood Ratio,LR)、赤池信息准则(Akaike information criterion,AIC)、施瓦茨准则(Schwartz criterion,SC)。对数似然值越大,AIC和SC值越小,模型拟合效果越好。这几个指标也用来比较OLS估计的经典线性回归模型和SLM、SEM,似然值的自然对数最大的模型最好。

空间变系数回归模型及估计:就目前国内外的研究来看,大多直接假定横截面单元是同质的,即地区或企业之间没有差异。传统的OLS只是对参数进行“平均”或“全域”估计,不能反映参数在不同空间的空间非稳定性(吴玉鸣,李建霞,2006;苏方林,2007)。 当用横截面数据建立计量经济学模型时,由于这种数据在空间上表现出的复杂性、自相关性和变异性,使得解释变量对被解释变量的影响在不同区域之间可能是不同的,假定区域之间的经济行为在空间上具有异质性的差异可能更加符合现实。空间变系数回归模型(Spatial Varying-Coefficient Regression Model)中的地理加权回归模型(Geographical Weighted Regression,GWR)是一种解决这种问题的有效方法。 、空间计量主要命令

spmat 生成空间权重矩阵

spatwmat 用于定义空间权重矩阵

spatgsa 用于全局空间自相关检验

gsa表示global spatial autocorrelation

spatlsa 进行局部空间自相关检验

lsa表示local spatial autocorrelation

spatcorr 考察空间自相关指标对距离临界值d的依赖性

spatdiag 针对ols回归结果,考察是否存在空间效应

spatreg 估计空间滞后与空间误差模型

空间面板主要命令为:help xsmle

Spatial Autoregressive (SAR) model

xsmle depvar [indepvars] [if] [in] [weight] , wmat(name) model(sar) [SAR_options]

Spatial Durbin (SDM) model

xsmle depvar [indepvars] [if] [in] [weight] , wmat(name) model(sdm) [SDM_options]

Spatial Autocorrelation (SAC) model

xsmle depvar [indepvars] [if] [in] [weight] , wmat(name) emat(name) model(sac) [SAC_options]

Spatial Error (SEM) model

xsmle depvar [indepvars] [if] [in] [weight] , emat(name) model(sem) [SEM_options]

Generalized Spatial Panel Random Effects (GSPRE) model

xsmle depvar [indepvars] [if] [in] [weight] , wmat(name) model(gspre) [emat(name) GSPRE_options]

1、放大率:

与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以,SEM中,透镜与放大率无关。

2、场深:

在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积:

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离:

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象:

次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。

6、表面分析:

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法:

如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料:

SEM扫描电镜图的分析方法:

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料:百度百科-扫描电子显微镜


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