如何测量横截面的SEM图像？

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是

断口

的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

钢基底上镀的金属膜的厚度可以用台阶仪测量，也可以用SEM截面照片测量，硬度可以用维氏显微硬度计和纳米压入仪测量，结合力可以用划痕仪测量，摩擦系数用摩擦磨损试验机测试。

玻璃上镀的Cr膜的厚度也可以用台阶仪或SEM截面照片测量，硬度只能用纳米压入仪测量，结合力和摩擦系数最好用纳米压入仪设备带的附件（微划痕仪与微磨损仪）测量。

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