你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

一楼回答的是针对纳米棒吧？

1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。

2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。

特点是可以测试1纳米~1000纳米范围内的样品数据可靠性高，要求纳米颗粒的粒径分布较为集中，你不要有很多1纳米级的，又有很多1000纳米的，这样出的数据可靠性相对低。会提供一个数据可靠性参数PDI。便宜，因为我们实验室就有可以帮你测。别的地方也有，行价大约是在50~100元之间吧。

粒径分为晶体粒径，和颗粒粒径，如果楼主确定是要颗粒粒径的话，还可以通过SEM，或FE-SEM来看。然后通过相关数据统计。SEM便宜也就100元左右，FE-SEM可能要300~500，这样看你的样品导电不导了，涉及到喷金、喷碳的问题。一楼说的紫外，我觉得的可取性不是很高，因为只是定性分析，不能给出定量数据，而且要受到浓度等多种因素影响，UIV主要用于浓度和紫外特征峰、漫反射等方面的表征。而且一般TEM随随便便就可以达到纳米级，没有那么夸张。一般的也就200元，高分辨的会比较贵也就500够了。但有个问题是TEM看到不一定是颗粒粒径，有可能是晶体粒径，你要具备分析的能力，也可以用这个表征。

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。

您可以参考：

SEM/EDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分析功能，这个软件很贵，一般要几万元人民币。

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720115227572397/

免费资源推荐：图像法粒径分布计算软件

这个是手动进行分析，是国内科研人员业余时间自己开发的简单分析软件，您可以试验一下：

http://coxem2010.blog.163.com/blog/static/16510375720119201448149/

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