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检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜,硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料,是半导体产业链基础性的一环。你的镀膜喷的是什么金属,金,pt,Pt/Pa,还是Ir?如果是Au,Pt的可以用王水溶掉吧我没做过,只是猜测。至于镀层厚度,要看你的具体情况了,几个nm到十几个nm都有。如果你做能谱可能要薄一点,如果想观察到清晰图像,不被样品的二次电子干扰,可能就要厚一点。帝尔激光机拍照位置硅片异常怎么办?回答是:(1)切割结束后的硅片通常不可以沾水,如不能及时清洗,先把硅片放到悬浮液中。 (2)硅片一经放到清洗台上,必须马上进行处理,在整个清洗过程中让硅片保持湿润。 (3)硅片在脱胶过程中保持表面湿润。
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