如何用IPP测量图像的分形维数

如何用IPP测量图像的分形维数,第1张

利用扫描电镜(SEM)图像和IPP图像技术对土壤微结构作定量分析,包括图像分割、图像形态学处理、土壤团聚体和孔隙的尺寸测量与计数、土壤微结构的三维模拟等。结果表明:由于土壤团聚体与孔隙的边缘十分复杂而难于区分,采用目视分割法确定阈值可保证图像分析精度。IPP形态学处理的流域分割法可识别SEM图像中成簇团聚体的边界并进行分离,从而实现团聚体的精确测量。利用IPP图像技术可快速测量团聚体和孔隙的尺寸和数量,并基于测量结果自动分类和统计。通过对SEM图像作空间变换和三维数字模拟操作,还可逼真显示土壤微观孔隙结构特征。IPP图像技术使土壤微结构的定量研究更为精确和快捷

拉伸、摩擦实验。冷喷涂铝层研究方法是进行拉伸、摩擦实验。利用冷喷涂工艺在镁合金表面喷涂纯铝涂层,结合SEM分析粉末的微观形貌及涂层的显微组织,用图像分析软件Ipp6对涂层气孔率进行测定,用拉伸试验测定镁合金基体与涂层的结合强度,通过摩擦试验研究涂层的摩擦磨损性能并对其磨损机理进行分析。

具体步骤如下:1.黑白反向处理。将荧光图片打开,点Edti中的convert to中的Gray scale8,然后点Enhance中的Invert contrast ,然后Apply contrast。

2.光密度校正省略,据说荧光图像不用做光密度矫正?

3.测量。点count/size,在measure中选select measurement选择Area和IOD,点ok。然后点select ranges,强度为156-255,然后点close关闭窗口,然后点count。

得到的Area 和IOD值,IOD值是否偏大?


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