求问：不锈钢圆棒拉伸断口要去做扫描电镜的话，怎么做？

专业拉伸和疲劳试样，处理如下：第一：断口切下来后【高度没有要求，所切试样尽量保持一样的高度（2mm左右），这样才能方便SEM，否则SEM时，要做的SEM断口都不在一个高度，很难对焦，严重影响图片的质量】第二:在有条件的情况下，断口最好全部用丙酮超声波清洗，纠正前面的错误，非酒精（作用：除油，除杂质）

有。

硅片一般分正面和背面，正面印正银，背面印背银和背铝，烘干烧结后可以使用并测试。光伏用的硅片表面不能有线痕，这种工艺在切割时就定型，用途太阳能发电。而半导体硅片在切割时，硅片两面都有线痕，经抛光研磨后成晶圆，再上光刻胶。

很多纳米管、线等都是在类似的基体上生长，然后直接SEM观察。换句话说，只有纳米材料才会考虑用抛光硅片做样品载台。微米亚微米级别的，浪费，直接双面导电胶带粘即可。抛光是研磨后进一步平整漆面，除去研磨残余条纹，抛光剂使漆面光泽度自然呈现。抛光有很多种，有机械抛光、化学抛光、电解抛光、超声波抛光、流体抛光、磁研磨抛光。

应该是自然干燥或者在烘箱中干燥，不能再用水淋洗，用氮气吹可能会把样品吹落。

Si线可能有导电性，但也需要用导电胶带固定。用帖有双面导电胶带的样品杯按压一下硅片，把样品转移到样品杯上。

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