对银纳米粒子进行TEM表征时,为什么要将它滴在碳膜涂层的铜网上?

对银纳米粒子进行TEM表征时,为什么要将它滴在碳膜涂层的铜网上?,第1张

不滴在有碳膜的一面怎么行呢?铜网的孔径相对于纳米材料是巨大的。况且有没有碳膜很好区分的,说的俗一点,就是有碳膜的看起来像是用铅笔在铜网上涂过一样。反正我做了这么久的TEM,制样时都是滴在有碳膜的一侧。

利用非共价修饰的方法,先在碳纳米管表面包裹上表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)和聚丙烯酸钠(PAA),然后原位修饰上铜和银纳米粒子,制备出MWCNT/CTAB/PAA/M(M:Cu或AS)纳米复合材料,最后通过XRD、SEM和TEM等技术对其进行表征.结果表明,利用这种简单的层层白组装方法能够在碳管上均匀地修饰金属纳米粒子,并且这两种金属纳米粒子的尺寸都小于5

nm.

0号:肯定是50nm左右的nanospheres/nanoparticles.1-5的曲线中,375nm,620nm,850nm处都有吸收峰出现,你应该是在重复同一个实验或者在控制某一个条件,但是还有不可预见的情况发生(温度,加样时间,搅拌速度等,明显1号就是失败的样),Ag NPs有长长的趋势,你的样品应该是趋向于生成nanobars/nanorods.具体的情况我觉得看下SEM直观点。

以上纯属个人观点,知识有限,有错的地方希望指出,大家沟通探讨

1.

5,10min对比:吸收峰对应波长变短(说明银纳米粒度变小)

10,15min对比:吸收峰对应波长变长

2.

由高电位向低电位

依据:这是个不可逆的电极反应,需先观察有无氧化峰,再观察有无还原峰

3.

关键:保持银纳米之间的空隙;防止银纳米被氧化

具体方案:硼氢根过量,与银离子形成配合物,产生氢气泡,包裹银纳米;低温;适当搅拌;等等

4.

合理。

因为过量的硼氢化钠不稳定,测光谱时分解,所以无法定量地加入硼氢化钠溶液作为参比体系;会引起误差,但误差不大(因为体系中引起误差的主要是纳,硼氢根,硝酸根等离子,与银纳米线度数量级不同)

5.

都是设置问题;

前一个想不太明白,后一个:电流范围太小,超出量程(电脑有提示),解决方法:重新设置量程

6.

观察银纳米光学性质和电化学性质的变化

uv:峰值对应波长变长(说明银纳米粒度变大),波长较长部分吸收下降(说明大颗粒聚沉到体系底部),可能出现肩峰(出现两种银纳米)

cv:忘了


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