sem2007怎么去保护

sem2007去保护驱动回路。在不明情景的情况下，不去保护处理，完成维修。许多的故障是由驱动回路，驱动管，驱动变压器或者高压电路等过电流所致保护电路触发。此些情况下，直接去保护处理而故障因素不明的话，过电流出可能会将故障位点继续变得更强，更烈，部分过电流由于缺失保护，会引起燃烧等的，为此，仅个人不采用去保护的方式进行完成维修，去保护的目的应当是临时性的，为了检查到哪里问题，需要点亮电路而临时去保护，维修完后恢复。在确实非不得已，只能以这种手段进行维修的话，个人认为，去保护维修完后应至少连续通电试机数个小时以上，并随时观察与注意恒流板或升压板是否出现冒烟现象，局部背光是否变弱变暗等异样，没有，几乎可以确定是某些元件性能减弱或者反馈取样电路出了问题。

使用扫描隧道显微镜STM和分子吸附辅助原子力显微镜AFM的确是可以基本上达到原子量级的分辨率没有问题.不过有一点就是电子显微镜,一般而言电子显微镜的是使用electron beam 来进行成像的手段,主要也就是TEM和SEM两大种,当然还有就是这两种设备的一些辅助功能,诸如高分辨的TEM和Stem.不知提问是想知道不论任何方式能够看到羟基和羧基就可以,还是需要用 电子显微镜 这种手段来进行分析.

扫描隧道显微镜和原子力显微镜都是利用距离跟进,一个产生隧穿电流,一个是范德瓦耳斯力,而直接相当于描出表面的形貌.

但对于电子显微镜,首先对于SEM,也就是扫描电子显微镜而言,是必然无法看到羟基和羧基的,甚至是连大分子都无法看到.如果不去考虑研究晶体取向的问题的话,可以吧扫描电镜看成是一个牛逼的放大镜,传说最牛逼的分辨率能到0.8nm,但是一般情况能达到1.5nm的个人感觉就挺牛逼了.对于TEM,目前想要高分辨率就一般是使用HRTEM,也就是好点的透射电镜的高分辨功能了.但是高分辨功能是通过电子衍射成像,也就是呈现一个格子像。

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