SEM看形貌,打能谱看成分,高中生都能懂,但是看组织什么的还得学习,操作基本可以放给训练过的人自己做
XRD是分析相组成,速度快不用抽真空,还很便宜,但是数据分析比较麻烦需要专门学习,对晶体学理论要求较高。操作方面我们是考了证就可以自己操作了,也不难学
我的建议是俩都做,毕竟得出的不是一样的结论,结合在一起会好很多
便宜的SEM现在很多的,不用上高倍的话就更多了,清华很多系里都有不开放的,北大也有,北科也有,没用过,企业里也有很多便宜的电镜
可以测。可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。
SEM的工作原理与使用方法 :
SEM的工作原理 扫描电镜(SEM)是对样品表面形态进行测试的一种大型仪器。
当具有一定能量的入射电子束轰击样品表面时,电子与元素的原子核及外层电子发生单次或多次弹性与非弹性碰撞,一些电子被反射出样品表面,而其余的电子则渗入样品中,逐渐失去其动能,最后停止运动,并被样品吸收。
在此过程中有99%以上的入射电子能量转变成样品热能,而其余约1%的入射电子能量从样品中激发出各种信号。
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