如何测量横截面的SEM图像？

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是

断口

的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：

献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。

第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。

希 望 采 纳 不 足 可 追 问

1）首先将纸张在液氮里浸渍下然后取出快速掰断（不能用剪刀剪，会破坏截面形貌）；

2）然后将纸张断面朝上，用导电胶粘在电镜样品台的侧面；

3）喷金后就可以测试了。

注：我们是自己加工了一个样品台，专门做膜材料截面的，就是一个正方体的小块，把样品粘在正方体四周任何一个面都可以，因为不方便粘在上面。

---