SEM 可以测成分吗

这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。

SEM图像测量分析的工作自动化，交给ProSEM软件就可以。sem分析软件，智能sem管理软件，一家专业的技术服务机构，一流的技术，严格的检查，系统化的技术服务，自动检查，自动上作，令您的工作从此变得更加高效。

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