2、氧化石墨烯导电性一般较差,扫描之前可以镀金处理。
3、选点很重要,选一些片状石墨烯边缘位置,可以看清层状结构,又能看到薄膜片状结构。
4、如果你是问扫描电镜的操作问题,请自动忽略以上问题
A4扫描电镜影像,可见聚乙烯塑料膜网状。蔡司100万倍扫描电镜(SEM)所显示了聚乙烯塑料膜网状结构,好多鱼形状会从这个网眼里游走。A4扫描电镜影像,可见聚乙烯塑料膜网状,
测试很小的有机薄膜状样品的物质成分用什么仪器XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。
1 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
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