样品脏了,发生了积碳,建议制好的样品注意保存环境或者及时测试。
扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。无论是观察纳米材料的形态结构,还是矿石的微观缝隙,纹路,甚至是兰花种子的细胞结构等,扫描电镜都是相对的优选。
SEM就是观察表面形貌的一种方法。对于块状材料,如果观察断口形貌,则要把样品打断,将断口在丙酮中超声处理,去除碎渣,再喷碳或金。
对于抛光样品,需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。
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