扫描电镜的样品为什么被腐蚀

由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动~~等等一些现象。建议：若果没有条件蒸镀导电膜的话 可以尝试用低真空做。

能是样品比较脏。

样品脏了，发生了积碳，建议制好的样品注意保存环境或者及时测试。

扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。无论是观察纳米材料的形态结构，还是矿石的微观缝隙，纹路，甚至是兰花种子的细胞结构等，扫描电镜都是相对的优选。

采用低真空模式或环境扫描模式（这两种模式一般都是要通入水蒸气，保持低真空度）。只不过清晰度会差一些，放大倍率倒是不会降低太多，一般1万或3万左右的放大倍数都没问题，主要是与喷金比较，会有些模糊，另外样品非常容易被电子束打的变形，留下烙印。

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