解释:
abbr. 扫描式电子显微镜(scanning electron microscope);标准电子组件(Standard Electronic Modules)
n. (Sem)(泰、柬)森(人名);(Sem)(西、挪)塞姆(人名)
读法:
英 [,es i: 'em]
用法:
SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜
SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析
TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院
近义词:
microscope
读法:
英 [ˈmaɪkrəskəʊp] 美 [ˈmaɪkrəskoʊp]
解释:
n. 显微镜
用法:
Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜
Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码
petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱 [光] 岩石显微镜
二次电子扫描象的分辨本领最高,约等于入射电子束直径,一般为6-10nm深,主要用于测试表面形貌;背散射电子为50-200 nm深,可以测表面形貌,也可以得到表面成分衬度;吸收电子和X射线为100-1000nm深,这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的) 2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得测那些无极性的大杂质颗粒,但这样容易碰坏针尖,针尖一般只有几个原子。 反正我觉得没法测。 EDX这个我不清楚,似乎是可以的。 你是不是吧SEM看错了,是SERS(表面增强拉曼)吧。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)