TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD：X-ray diffractionX射线衍射

XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

通过研究内层电子结合能及其氧化态的变化,X射线光电子能谱(XPS)可以鉴别元素种类和价态、测定元素的相对含量、了解中心离子与配位原子的相互作用和验证量子化学理论。XPS已成为研究配合物中配位位点、电荷分配和配合物结构的有力工具。

用化学镀的方法获得了不同含量的形态均匀的沉积在活性炭毡上的具有催化活性的金属钯，用于测试间歇反应器中亚硝酸根的还原性。镀液的浓度、晶种的形成步骤是决定金属钯的颗粒大小和形态的关键。钯种在碳毡外表面，当颗粒大小是96±22 nm时的含量是0.14 wt.% （重量百分比），而当形成金属钯薄层时，含金属钯的量达到了1.9 wt.%。用SEM, EDS, XRD 和 XPS方法对试验前、试验后的碳毡进行了表征。.

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