SEM 实验

烧结试样的 SEM 分析采用日本日立公司生产的 S-520 扫描电子显微镜完成。首先将试样的新鲜断裂面在 IB-3 离子溅射渡膜仪中喷渡厚度约为 10 ～20 nm 的金，对结构致密的部分试样断裂面采用 40%浓度的氢氟酸 ( HF) 侵蚀 20min 后进行镀金，然后放入 SEM样品室内进行观察，电子枪电压采用 20kV，电子束流为 150 mA，并用照相方式记录样品的二次电子图像 ( 或称之为形貌像) 。

电子显微镜的主要公司有FEI，日立，日本电子，卡尔蔡司，中科科仪等这不对啊，很多无名啊！

LJ-CL01 拍照测量显微镜 ，LJ-CLP03金相显微镜 ，LJ-HD01 高清显微镜, LJ-HS01 HDMI显微镜，LJ-DSX01电视显微镜，LJ-SPX01视频显微镜， LJ-DZF电子放大显微镜，LJ-DZX01 数码显微镜等。这是国内电镜厂商

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