解释:
abbr. 扫描式电子显微镜(scanning electron microscope);标准电子组件(Standard Electronic Modules)
n. (Sem)(泰、柬)森(人名);(Sem)(西、挪)塞姆(人名)
读法:
英 [,es i: 'em]
用法:
SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜
SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析
TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院
近义词:
microscope
读法:
英 [ˈmaɪkrəskəʊp] 美 [ˈmaɪkrəskoʊp]
解释:
n. 显微镜
用法:
Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜
Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码
petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱 [光] 岩石显微镜
扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份,只能测试材料表面,根据电压不同测试的厚度不同,且轻元素是测试不了的,不记得是Be还是B之前的元素了,反之从C开始都能测试到,准确性很差。不可以。由于微塑料尺寸较小,我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一,元素分布均匀,无明显微塑料的信息,多次尝试未果,所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析,难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。
eds不是表面技术,和sem形貌信号源完全不同,当然没可比性,eds纵向分析深度至少也是微米级。扫描电镜的能谱分析就是分析的表面附近一两个微米以内范围的成分。这是因为电子束的能量有限,不可能打到厚度较深的区域。sem电子束的穿透深度是微米级的,如果你样品表面只有几纳米,建议用其他表征方法。sem穿透深度和你用的加速电压有关系,电压小穿透浅,你可以试试用5千伏特。
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