我已将六张SEM图片剪贴后排列在论文中，请问如果在这六张图片的右下角标出图片编号和放大倍数？

没能清楚理解你想表达什么意思，是想在图片上的右下标出编号并写出放大倍数还是想在文档中标出。

要是想在图片上添加标记的话，可以使用PS或者这种简单的直接用画图工具就可以解决。

如果是想在文档中标的话，可以通过特殊排版实现。若确定其他格式都不变了的话，可以将图片选为嵌入试，然后在下面一行的前面打空格，到理想的位置再输入编号和倍数。

自己排队倒还没看到过wjack6827(站内联系TA)可是纳米粒子合成过程中条件控制的问题吧，不同的配方，不同的手法做出来的东西是有差别的，还有可能是结晶度好不好的问题！哈哈仅供参考！redspy(站内联系TA)合成的时候加东西 粒子表面有一层包裹体（一般情况是有机物，很难测量出来）可能就是所谓的超晶格不过sem 能看到么 ！好像都是 TEM 测试吧！虫虫512(站内联系TA)将样品分散在易挥发的溶剂中，滴到样品台上沉积一定的时间，用滤纸吸走多余样品和分散剂，挥发干后再喷金作样测量！供参考lylpop(站内联系TA)呵呵这不是制样问题，这是人家合成过程控制得好，形貌均一。尺度均匀这照出的电镜才好看，文章档次就上去了:):):):):):)yuan0019(站内联系TA)跟你的样品和制样很有关系。也可以先分散在酒精中，超声分散30min，吸一滴到样品台上，让它风干nano-metaloxide(站内联系TA)样品排列的好，是因为样品本身就长得好，与制样没关系。要定向生长，照片才会好看。

薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力，从而大幅度降低对样本和针尖的损伤。如此可延长各针尖的使用寿命，使扫描更加低成本和便捷，并通过提高空间分辨率和信噪比得到更为精确的结果。因此，利用NX-Hivac进行的高真空扫描扩散电阻显微术测量可谓是故障分析工程师增加其吞吐量、减少成本和提高准确性的明智选择。

XRD、 SEM、AFD三者的区别：

1、 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2、 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3、 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

想要了解原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park成立至今，致力于新产品和新技术的开发，为客户解决各种技术难题，提供最完善的解决方案。Park原子力显微镜具有综合性的扫描模式，因此您可以准确有效地收集各种数据类型。从使用世界上唯一的真非接触模式用来保持探针的尖锐度和样品的完整性，到先进的磁力显微镜， Park在原子力显微镜领域为您提供最具创新、精确的模式。

---