测粉体样品元素掺杂量的方法

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swan

一切关于水的问题都不是问题

8mg含量太少了，所以每一步的分析都得仔细，尽量不消耗样品为前提，

1.SEM+EDS，可以通过扫描电镜和能谱，获知形貌、粒径分布、元素半定量等，为后续分析做一个基本参考。属于无损检测，不消耗样品。

2.FITR，红外光谱分析。通过红外，可以或者很多官能团结构或者直接获得样品成分。属于无损检测，不消耗样品。

3.选择4mg进行顶空GC-MS。如果样品是无机和有机混合物，可以获得样品有机物成分。

4.选择4mg进行高分辨ICP-MS。可以获知样品全元素分布。

可以。采用水热法,以CoCl2.6H2O为前驱物,KOH作为矿化剂合成了掺钴氧化锌稀磁半导体晶体。利用扫描电子显微镜SEM及X射线能谱仪XREDS对合成晶体的微观形貌、表面及内部掺杂元素Co的相对含量和分布的均匀性进行了研究。

扫描电镜能谱分析通过激发原子发射特征X射线来确定成份，只能测试材料表面，根据电压不同测试的厚度不同，且轻元素是测试不了的，不记得是Be还是B之前的元素了，反之从C开始都能测试到，准确性很差。

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