XRD、 SEM、AFD三者的区别:
1、 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。
2、 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
3、 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。
XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。
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金属镀膜法和组织导电法镀导电膜对于sem有效分析不导电样品有不可缺少
但是导电膜也有可能由于本身的特点造成图像的扭曲甚至假象
一般导电膜无外乎三种材料:Au,Pt,C
专家建议,需要高分辨的情况下,尽量使用Pt或者Pt-Pd合金膜
因为它对图像的扭曲最小。
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