另外,不知道你是企业还是科研论文用的。我们一般的做法是在SEM图像的模式下采集图片A,因为这个模式下图像最清晰,然后就选取这个图片的位置不动,调整工作距离和工作电压来进行EDX的采集,由于电压和距离的调整,此时图片B的质量很差,但是工作参数很适合打EDX,这是收集EDX数据,然后你在论文或者结果展示的时候用你在图像模式下采集的图像A来作为图像,然后一起附上EDX的数据,这样处理时最佳的
二次电子扫描象的分辨本领最高,约等于入射电子束直径,一般为6-10nm深,主要用于测试表面形貌;背散射电子为50-200 nm深,可以测表面形貌,也可以得到表面成分衬度;吸收电子和X射线为100-1000nm深,这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>10nm非常小了,一般情况下FE-SEM不会用来观测10nm左右纳米颗粒的微观结构的~还有,SEM是二次电子成像,由于二次电子的产额随原子数的变化不大,所以得到的SEM图像中Contrast不怎么明显。所以我觉得你应该用TEM来表征你做的这个样品,在TEM图像中,Ni的颜色比Al2O3的暗,如果条件允许的话,做HRTEM或者EDX就更能准备表征你样品中的黑色纳米颗粒是Ni了~~~欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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