TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?,第1张

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD:X-ray diffractionX射线衍射

XPS:X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR:Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ:Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

这是两个缩略词:

FESEM (field emission scanning electron microscopy)场发射扫描电子显微镜

SEM (scanning electron microscopy) 扫描电子显微镜

下面是专业方面的差别,找来的,自己不懂:

FESEM就是用场发射枪的SEM,SEM则是统称。场发射枪比LaB6(CeB6)的电子束亮度强100倍,比钨灯丝高10000倍,是一个高性能的电子光源。由于它采用的技术能使电子束的束斑很细(最细甚至在0.5 nm以下),所以能有很高的分辨率(目前最高0.4 nm)。

喷金和喷碳是为了增加样品表面的导电性,但FESEM的样品最好不要喷金,甚至最好不要喷碳,为的是能看到最接近原始形貌的图片。由于有高亮度的特点,对于不导电的样品可以把电压降低,或者使用电子束减速模式等新技术,同样能得到质量很高的照片。

FESEM

abbr.

field emission scanning electron microscope 场致发射扫描电子显微镜field emission scanning electron microscopy 场致发射扫描电子显微分析法Forcible Entry Safeguards Effectiveness Model 强制进入保障监督效用模型


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