智学纳川的线下培训效果如何呀？有没有推荐的？

1、他们培训老师都很优秀，他们的老师认真负责，讲解基础知识点幽默风趣，但最大的特点是注重实操部分，现在注重实操的培训机构不多了，智学纳川都会提供真是的账户让学员上手操作，单纯的知识点记忆对SEM知识点是不能全部理解的，智学纳川这块做得挺好的，并且线下课程老师现场点评，让学员充分利用碎片化时间学习更多实用技能！

2、南京网络营销培训，南京智学纳川营销培训课程采独有的线下教学方式进行授课，专门提升网络营销技术，根据学生们的不同学习特点提供专门的个性化指导，学习之前会对学生们进行全方位的测评，找到学生们的学习问题，有针对性的进行提升训练，査缺补漏，培养学生们的网络营销技术和能力，优化网络营销学习步骤和思维方式，巩固网络营销基础知识，有效的提升网络营销能力为之后的工作做好准备。更有先试听后报名的优惠，真正的注重培训质量，保证每个学员能够学到东西，物有所值。

3、SEM培训价格通常在1W到2W左右，但是不要被这个价格吓到，真的学成物有所值！随着SEM在全球范围内的普遍应用以及在中国的迅速起步，SEM在互联网这个新兴市场的开拓方面，一直居于领导性地位。在欧美等发达国家，SEM已经是一个非常流行的企业对外营销手段，其SEM从业人员的薪酬待遇也居于互联网行业的领先水平。

在我国，截至2011年底，已有40万家企业启用了SEM，很多已经获得了良好的收益。但由于专业的SEM从业人员不到一万人，使得SEM从业人员缺口极大。目前，我国初级SEM从业 人员的平均月度薪酬水平已经达到元之间，中级的月平均在元之间。

这边推荐南京一家专门做SEM线下培训的机构，之前从他们的官网http://www.zhixuenc.com了解过南京智学纳川的SEM线下课程主要分为五大块，从账户搭建、数据分析、优化实操、效果提升、以及附加模块讲的非常详细！是竞价员以及竞价主管必备课程！后面去听了试听课就立马报名了，大家也可以加他们老师微信直接预约试19850702259。

账户搭建模块

培训目的:

掌握基础原理，知其然知其所以然。想要做好竞价推广，必先系统了解兖价,建立竞价思维。通过本章节学习，让您掌握关键词、出价，匹配、创意等基础操作中每一项的意义,能够依据项目制定适合自己的账户策略,独立完成账户搭建工作。同时为账户优化做好前期工作。

数据分析模板

培训目的:

数据分析思维，洞察数据代表的意义。数据分析，用真实数据体现真实问题，让操作不再盲目。本章将从确认目的、数据统计、分析问题、解决问题以及辅助工具等多个角度结合真实数据讲解帮助您建立系统的数据分析思维。

优化实操模块

培训目的:

优化思路拓展，掌握智能投放技巧。掌握大搜的智能投放技巧,同时提升解决问题的能力,优化实操的能力。本章将会从流量控制技能，效果提升思维，常见问题解决。OCPC投放技巧以及基木鱼智能落地页制作,提升您的账户优化技能和控制流量思维。

效果提升模块

培训目的:

懂操作更懂营销，全方位为效果负责。不做只懂技术的竞价，而是站在制高点为效果负责。本章节通过今日头条、360等大搜平台学习，让投放更全面，而高转化页面优化技巧、攻心文案的撰写以及多渠道引流的整合思维提升，让您成为一个没有短板的竞价员，具备项目主管的能力。

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微加工.

SEM是电子束成像原理.

FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.

如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。

以目前实验室配有的FIB-SEM的型号是蔡司的Crossbeam 540为例进行如下分析，离子束最高成像分辨率为3nm，电子束最高分辨率为0.9nm。该系统的主要部件及功能如下：

1.离子束： 溅射（切割、抛光、刻蚀）；刻蚀最小线宽10nm，切片最薄3nm。 

2.电子束 ： 成像和实时观察

3.GIS(气体注入系统)： 沉积和辅助刻蚀；五种气体：Pt、W、SiO2、Au、XeF2(增强刻蚀SiO2)

4.纳米机械手：  转移样品 

5.EDS： 成分定量和分布

6.EBSD ： 微区晶向及晶粒分布

7.Loadlock（样品预抽室）： 快速进样，进样时间只需~1min

由上述FIB-SEM的一个部件或多个部件联合使用，可以实现在材料研究中的多种应用，具体应用实例如下：

图2a和b分别是梳子形状的CdS微米线的光学显微镜和扫描电镜照片，从光学显微镜照片可以看出在CdS微米线节点处内部含有其他物质，但无法确定是什么材料和内部形貌。利用FIB-SEM在节点处定点切割截面，然后对截面成像和做EDS mapping，如图2c、d、e和f所示，可以很直观的得到在CdS微米线的节点处内部含有Sn球。

FIB-SEM制备TEM样品的常规步骤如图3所示，主要有以下几步：

1）在样品感兴趣位置沉积pt保护层

2）在感兴趣区域的两侧挖大坑，得到只有约1微米厚的薄片

3）对薄片进行U-cut，将薄片底部和一侧完全切断

4）缓慢移下纳米机械手，轻轻接触薄片悬空的一端后，沉积pt将薄片和纳米机械手焊接牢固，然后切断薄片另一侧，缓慢升起纳米机械手即可提出薄片

5）移动样品台和纳米机械手，使薄片与铜网（放置TEM样品用）轻轻接触，然后沉积pt将薄片和铜网焊接牢固，将薄片和纳米机械手连接的一端切断，移开纳米机械手，转移完成

6）最后一步为减薄和清洗，先用大加速电压离子束将薄片减薄至150nm左右，再利用低电压离子束将其减薄至最终厚度（普通TEM样品<100nm，高分辨TEM样品50nm左右，球差TEM样品<50nm）

一种如图4a所示的MoS2场效应管，需要确定实际器件中MoS2的层数及栅极（Ag纳米线）和MoS2之间的距离。利用FIB-SEM可以准确的在MoS2场效应管的沟道位置，垂直于Ag纳米线方向，提出一个薄片，并对其进行减薄，制备成截面透射样。在TEM下即可得到MoS2的层数为14层（图4c）， Ag纳米线和MoS2之间的距离为30nm（图4b）。

图5是一种锰酸锂材料的STEM像，该样品是由FIB-SEM制备，图中可以看到清晰的原子像。这表明FIB-SEM制备的该球差透射样非常薄并且有很少的损伤层。

FIB-SEM还可以进行微纳图形的加工。

图6a 是FIB-SEM在Au/SiO2上制备的光栅，光栅周期为150nm，光栅开口为75nm。

图6b 是利用FIB-SEM在Mo/石英上做的切仑科夫辐射源针尖，针尖曲率半径为17nm。

图6c 是在Au膜上加工的三维对称结构蜘蛛网。

图6d 是FIB-SEM在硅上刻蚀的贺新年图案，图中最小细节尺寸仅有25nm。

FIB-SEM可以对材料进行切片式的形貌和成分三维重构，揭示材料的内部三维结构。大概过程如图7a所示， FIB切掉一定厚度的样品，SEM拍一张照片，重复此过程，连续拍上百张照片，然后将上百张切片照片重构出三维形貌。图7b是一种多孔材料内部3×5×2um范围的三维重构结果，其实验数据是利用FIB-SEM采集，三维重构是利用Avizo软件得到，其分辩率可达纳米级，展示了内部孔隙的三维空间分布，并可以计算出孔隙的半径大小、体积及曲率等参数。

利用FIB-SEM配有的纳米机械手及配合使用离子束沉积Pt，可以实现微米材料的转移，即把某种材料从一个位置（衬底）转移到特定位置（衬底），并固定牢固。图8是把四针氧化锌微米线从硅片转移到两电极的沟道之间，从而制备成两个微米线间距只有1um的特殊器件。

最后，FIB-SEM还有很多其他的应用，例如三维原子探针样品制备，芯片线路修改等。总之FIB-SEM是材料研究中一个非常重要的手段。

不积珪步，无以至千里；不积细流，无以成江海。做好每一份工作，都需要坚持不懈的学习。

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