怎样用afm测试pmma薄膜厚度

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。 1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。 2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

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