SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量

粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法

比表面积可以BET的方法。

其他的就不清楚了，可能还有新的方法

(ii) The white sample was divided into four parts and separately wasobserved by SEM (Leo5420, 10[1]20keV)by TEM (H-7100, 120 keVJEM-4000, 400 keV) and by HRTEM.

(ii) 将白色样品分为四份，分别用扫描电镜（leo5420，10 20 keV）、透射电镜（H-7100，120 keV；JEM -4000，400 keV）和高分辨透射电子显微镜观察。

The compositionof the product was analyzed by energy dispersive X-ray (EDX, JEM-2010).

通过能量分散型X射线（EDX，JEM-2010）分析生成物的成分。

Luminescenceexperiments were carried out by exposing the SiO2 nanowires to X-rayirradiation using a Philips set to deliver a dose of 20 Gy•min−1.

通过飞利浦仪器提供20 Gy•min−1剂量将SiO2纳米线置于X射线照射下进行了发光实验。

Theluminescence emission of the sample was measured using a high-sensitivitymultiplexed system with F/2.2 optics developed.

用开发的带F / 2.2光学器件的高灵敏度多路复用系统测量了样品的荧光发射。

Experimentswere conducted at low (25 240 K, heating rate 6K•min−1)and high (293 673 K, heating rate 50 K•min−1)temperatures.

在低温（25 240 K，加热速率6K•min−1）和高温（293 673 K，50 K•min−1）条件下进行了实验。

2. Results anddiscussion

2。结果与讨论

SEM (fig. 2(a))image reveals the presence of white product on TiSi film.

扫描电镜（图2（a））图像显示TiSi膜上有白色生成物。

Under higherresolution, the white product consists of large quantities of wire-likematerials and these wires are winding, exhibiting smooth surface and uniformdiameter (ca. 40 90 nm).

在更高分辨率的条件下（可以看出），白色生成物由大量的丝状材料构成，且这些线是弯曲的，有光滑的表面和均匀的直径（约40 90 nm）。

Further HRTEMexamination shows that the nanowires are amorphous (fig. 2(c)) and EDX analysesindicate that they consist solely of silicon and oxygen (fig. 2(d)).

用高分辨透射电子显微镜进行进一步检查表明，纳米线为非结晶的（图2（c）），而能谱分析表明，他们只是由硅和氧（图2（d））构成的。

Computeranalyses exhibit that the Si O ratio is 1 2. Therefore, they are very longamorphous SiO2 nanowires.

计算机分析表明，Si与O的比率为1:2。因此，他们是很长的非结晶SiO2纳米线。

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