SEM和TEM观察到的压电陶瓷晶粒有什么不同啊？

你的这个样品很可能是多级结构，因为做TEM要超声分散，把本来团聚的颗粒分散开了。建议在xrd中用谢了公式算一下粒径。如果能确定TEM中

的粒子是单晶的，就叫“晶粒”（grain)，一般SEM中看到的粒子叫“颗粒"(particle),因为SEM是看不到晶格结构的。不知对你有否帮助？

观察不同类型的材料做对比的话，尽量选取相同放大倍数的照片进行对比。这样的话更有说服力，SEM最大的作用就是观察材料的微观结构和形貌，如果准备写文章的话，文章中将你的SEM照片视野范围内的现象描述清楚即可。

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观测并拍摄局部异常照片和测量异常尺寸、测量芯片关键尺寸线宽和孔径、定性和定量分析异常污 染物的化学元素组成。

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