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扫描电子显微镜,简称:扫描电镜,英文名称:SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面,
通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合,可以进行成分分析。所以SEM也是显微结构分析的主要仪器,已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。
扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。电镜辐射来源主要源于,电子枪发射的电子束和电子束激发样品表面出来的各种信号。而电子束直径只有纳米到10纳米级别,因此产生的辐射很少很少。同时,电镜电子枪位置有大块铅块吸收辐射,样品仓由很厚的金属材料做成,因此对于电镜整体而言,几乎没有对外的辐射。另外,需要提醒楼主的是,电镜虽然辐射不大,不过电镜样品千奇百怪,不免遇到一些有毒有害的物质材料,楼主需要做好保护措施(手套,口罩),既保护自己,又保护电镜和样品不受污染
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