互联微缩的问题

跟现代人说互联网，大家会以为是微信、抖音这种或者是拼多多、小红书。

其实的大概也就是说10年前的样子，互联网则是另一番景象，只不过，大家不愿意去承认罢了。

最近很多老网友在感叹，早期的互联网正在萎缩。

那时候的互联网是什么场景呢。

互联网以免费的名义，以链接一切为己任，创造了全球互联网的繁荣。

如果你做的是与这一价值观相悖的事情，则会被口诛笔伐，人人得而诛之，也很难在互联网圈混下去。

所以大家也就形成了一种默契，分享、免费，似乎成了互联网的代名词。

2011年以后，以微信为代表的移动互联网浪潮以摧枯拉朽的态势，重构了之前的互联网生态。

很多pc互联网时代的公司，纷纷转型到移动端。当然，也有很多未转型成功的，直接关门大吉。

在这个过程中，淘汰掉了一大批企业和应用服务。

我在网上大概查看了一下，很多那个时代的产品大部分已经不复存在。不管是国内还是国外，很多公司的服务主动或者被迫关停。

这对于用户来说，是直接少了很多可以使用的服务，光谷歌公司关停的服务就多达一百多项，微软公司也同样如是。

国内更是如此，本来国内的互联网服务，大部分寿命都不超过24个月，少数的能一直存在下去，像搜狗输入法、百度搜索这种古老的应用能一直存在下去已经不容易。

我之前查了一下我的网站注册时间，添加了计数器，已经运行了13年之久，如下图：

我把这个计数器放在网站底部，一直提醒别人和自己，这种存在，本身已经是一种奇迹，这13年间，多家应用和服务已经来了又走，又有多少应用和服务还存在这世上呢。

从我使用比较多的服务来看，国外的服务生存率更大一些，国内简直惨不忍睹。大概国内很多的公司还是比较注重短期利益，没钱赚，直接关掉，去下一个能赚钱的领域。不要试图反驳，这种例子实在太多了。

现在的很多应用是把用户隔离在自己的应用中为荣，和原先的免费、分享成了鲜明的对比。连国家都看不下去了，已经制约了创新发展和资源的流通。

最近，阿里和腾讯的互联互通真是这一要求下的产物，如果无法实现更广泛的互联互通，用户被强制的隔离将会被直接强制打破壁垒。

连移动电信联通都可以相互打电话发短信了，但在微信的你却无法和钉钉的用户发信息。

这被认为是时代的倒退。

更不符合互联网精神。

现在讲究的是万物互联的时代，基于操作系统层面的国内几乎全军覆没，全是基于应用层面，大家在那打来打去，想想确实有一些悲情。

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是

断口

的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。

1、结构差异:

主要体现在样品在电子束光路中的位置不同。透射电镜的样品在电子束中间，电子源在样品上方发射电子，经过聚光镜，然后穿透样品后，有后续的电磁透镜继续放大电子光束，最后投影在荧光屏幕上扫描电镜的样品在电子束末端，电子源在样品上方发射的电子束，经过几级电磁透镜缩小，到达样品。当然后续的信号探侧处理系统的结构也会不同，但从基本物理原理上讲没什么实质性差别。

2、基本工作原理:

透射电镜：电子束在穿过样品时，会和样品中的原子发生散射，样品上某一点同时穿过的电子方向是不同，这样品上的这一点在物镜1-2倍焦距之间，这些电子通过过物镜放大后重新汇聚，形成该点一个放大的实像，这个和凸透镜成像原理相同。这里边有个反差形成机制理论比较深就不讲，但可以这么想象，如果样品内部是绝对均匀的物质，没有晶界，没有原子晶格结构，那么放大的图像也不会有任何反差，事实上这种物质不存在，所以才会有这种仪器存在的理由。

扫描电镜：电子束到达样品，激发样品中的二次电子，二次电子被探测器接收，通过信号处理并调制显示器上一个像素发光，由于电子束斑直径是纳米级别，而显示器的像素是100微米以上，这个100微米以上像素所发出的光，就代表样品上被电子束激发的区域所发出的光。实现样品上这个物点的放大。如果让电子束在样品的一定区域做光栅扫描，并且从几何排列上一一对应调制显示器的像素的亮度，便实现这个样品区域的放大成像。

3、对样品要求

(1)扫描电镜

SEM制样对样品的厚度没有特殊要求，可以采用切、磨、抛光或解理等方法将特定剖面呈现出来，从而转化为可以观察的表面。这样的表面如果直接观察，看到的只有表面加工损伤，一般要利用不同的化学溶液进行择优腐蚀，才能产生有利于观察的衬度。不过腐蚀会使样品失去原结构的部分真实情况，同时引入部分人为的干扰，对样品中厚度极小的薄层来说，造成的误差更大。

(2)透射电镜

由于TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度，因此样品观测部位要非常的薄，例如存储器器件的TEM样品一般只能有10～100nm的厚度，这给TEM制样带来很大的难度。初学者在制样过程中用手工或者机械控制磨制的成品率不高，一旦过度削磨则使该样品报废。TEM制样的另一个问题是观测点的定位，一般的制样只能获得10mm量级的薄的观测范围，这在需要精确定位分析的时候，目标往往落在观测范围之外。目前比较理想的解决方法是通过聚焦离子束刻蚀(FIB)来进行精细加工。

扩展资料：

透射电子显微镜的成像原理 可分为三种情况：

（1）吸收像：当电子射到质量、密度大的样品时，主要的成相作用是散射作用。样品上质量厚度大的地方对电子的散射角大，通过的电子较少，像的亮度较暗。早期的透射电子显微镜都是基于这种原理。

（2）衍射像：电子束被样品衍射后，样品不同位置的衍射波振幅分布对应于样品中晶体各部分不同的衍射能力，当出现晶体缺陷时，缺陷部分的衍射能力与完整区域不同，从而使衍射波的振幅分布不均匀，反映出晶体缺陷的分布。

（3）相位像：当样品薄至100Å以下时，电子可以穿过样品，波的振幅变化可以忽略，成像来自于相位的变化。

参考资料：百度百科-扫描电镜

百度百科-透射电镜

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