你看看
电子显微镜的测试原理,SEM本来就是靠检测
电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言,不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像,所以才要进行喷金处理。看结晶晶体
的话用带有热台的偏光显微镜比较好,SEM可能看不出。采用低真空模式或环境扫描模式(这两种模式一般都是要通入水蒸气,保持低真空度)。只不过清晰度会差一些,放大倍率倒是不会降低太多,一般1万或3万左右的放大倍数都没问题,主要是与喷金比较,会有些模糊,另外样品非常容易被电子束打的变形,留下烙印。这个检测的话用FTIR 红外光谱扫描仪检测 各种混料的成分,做定性分析
再用DSC 差式扫描仪就行物料的成分数量分析,坐定细分析
均匀度的话,用SEM 高倍电子显微镜,看一下分子级别的皮排列均匀度。
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