sem是电子束成像原理。
fib中带有电子束成像,也可以离子束成像(一般不用,对样品表面形貌损伤太大)。
如果您只观察形貌的话,用sem即可,fib的电子束成像方面和sem都一模一样。
谢谢!
EM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,观察内部结构STEM是扫描透射,是扫描电镜里面的一个功能,可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
sem是电子束成像原理。
fib中带有电子束成像,也可以离子束成像(一般不用,对样品表面形貌损伤太大)。
如果您只观察形貌的话,用sem即可,fib的电子束成像方面和sem都一模一样。
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EM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,观察内部结构STEM是扫描透射,是扫描电镜里面的一个功能,可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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