sem扫描电镜的原理及操作,sem扫描电镜的原理制样

sem扫描电镜的原理及操作,sem扫描电镜的原理制样,第1张

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用,扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。

2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

3.sem是一种电子显微镜,中文名为扫描电子显微镜,通过用聚焦电子束扫描样品的表面而产生样品表面的图像。

4.它由电子光学系统、信号收集及显示系统、真空系统和电源系统组成,应用于生物、医学、材料和化学等领域。

5.扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

6.扫描电镜的优点是,有较高的放大倍数,20-20万倍之间连续可调。

7.有很大的景深,视野大,成像富有立体感,可直接观察各种试样凹凸不平表面的细微结构。

8.试样制备简单。

9.目前的扫描电镜都配有X射线能谱仪装置,这样可以同时进行显微组织形貌的观察和微区成分分析,因此它是当今十分有用的科学研究仪器。

扫描电镜通过观测晶粒形貌,放大后使用标尺测量粒径,或者专业的软件,对颗粒形态进行综合表征,如长轴短轴周长面积等,可以生成粒度直方图,但由于扫描电镜一般允许10%左右的放大倍数误差,因此相应的粒径尺寸也有较大的误差.

X射线衍射是通过输入衍射峰半高宽来对晶粒大小进行估算,相对准确度高.

1.

XRD算出的粒径适合于100nm以下的粉末,主要原理是细化导致的衍射峰宽化,是个平均值。

2.

扫描电镜得出的粒径就是真实粒径了,看到多大它就是多大。


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