TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成
FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等
Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。
CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压
EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息
BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。
XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱
这个差异有点大可能是制备扫描样品时,样品团聚造成的,而透射可能是样品分散可以做个对比实验,制备扫描样品时,也采用透射的方法,滴在玻璃片上或是硅片上,再看看形貌,来判断一下什么原因造成的形貌差异具体看看你的样品有什么特征了,要能很好的分散在溶剂中,如果太黏,制样的效果不好;还有就是如果忖度太低,需要染色,这样效果要好点。制样:一般附在铜网上,制成液体,滴在铜网上,干燥就行了欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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