用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别

用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别,第1张

粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。

AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。

而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系

当分辨率在纳米和原子范围时,扫描电镜(sem)和原子力电镜(afm)是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术,各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。sem需要在真空环境中进行,而afm是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定液体中细微颗粒的形态,afm更为适合一些。通常afm扫描含水的试样是把它和扫描探针放在液体中进行的,因为afm不是以导电性为基础,所以图像和扫描模件在液体中都不会受干扰。

xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。


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