只知道标尺无法知道放大倍数。
拿尺子量一下标尺,用尺子上的刻度除以标尺的刻度就是放大倍数。
例如尺子量出标尺长10mm,标尺上标称10um,那么放大倍数就是10mm/10um就是1000倍。
扫描电镜的放大率与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。
所以,SEM中,透镜与放大率无关。
扩展资料:
扫描电子显微镜的制造依据是电子与物质的相互作用。
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
当一束极细的高能入射电子轰击扫描样品表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。同时可产生电子-空穴对、晶格振动(声子)、电子振荡(等离子体)。
参考资料:百度百科-扫描电子显微镜
TEM是透射电子显微镜的英文缩写,而SEM是扫描电子显微镜的英文缩写。它们都是分析高速电子流与样品作用之后的有关信息。由于收取的信息不同,观测的结果也就有较大差异。
TEM观察的是样品透射和衍射电子的信息,因此它主要用于研究样品的形貌、晶体缺陷及超显微结构等特征,也可以测定晶体的结构参数和进行晶体的定向。
TEM具有很高的分辨率(达0.1nm)和放大倍数(100~200万倍)。
SEM主要利用二次电子进行高分辨的表面微形貌观察。其分辨率高(可达5nm),放大倍数为10~30万倍。如果它们配上能谱仪,均能够进行定性或半定量的成分分析。
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