请教不导电样品的SEM观察

嘿嘿 这位同学应该刚刚接触到这个sem吧！简单的说吧——由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)。

可以，做SEM时，电子射入材料时是散射开的，纵向截面类似于一个葫芦形，所以它探测到的反射能谱不是最表面的材料，如果你入射能量大，甚至可以深入材料几个微米的深度。所以SEM能谱分析得出的不是最表面那几层原子，还要更深一些，是一个葫芦状微观三维区域的原子能谱。

镀金膜导电可以让表面形貌的图像更清晰，但是仪器会自动将能谱里的金峰标出，不会影响其他元素的判断。

文献里看不到金峰，可能是由于作者只取了对自己有用的那一段能谱进行说明，而没有打出全部能谱

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

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